History of High-Voltage Dielectric Loss Testers

Apr 04, 2026

Jäta sõnum

Early dielectric loss measurements widely used Schering bridges (such as the QS1 bridge). These required external standard capacitors, boost converters, and power control boxes, necessitating balancing and result conversion, making them inconvenient to use.

 

The development of dielectric loss testers replaced the traditional QS high-voltage bridge. Their technological evolution broke through the traditional bridge measurement method, employing frequency conversion power supply technology and utilizing a microcontroller for automatic frequency conversion, analog-to-digital conversion, and data processing, achieving automated measurement and simplifying the operation process.

 

Modern, widely used digital high-voltage dielectric loss testers employ digital notch filtering technology to avoid interference from power frequency electric fields. Their basic measurement principle is based on the traditional Schering bridge. The measurement system synchronously samples the current signals of the standard circuit and the circuit under test at high speed, and then performs analog-to-digital conversion and vector calculations to derive the capacitance and dielectric loss values ​​of the test sample.

 

Varased dielektrilise kadu mõõtmised kasutasid laialdaselt Scheringi silda (nagu QS1 sild). Testimise ajal oli vaja väliseid standardseid kondensaatoreid, võimendusmuundureid ja võimsuse juhtkarpe. Tasakaalustused olid vajalikud ja tulemused tuli teisendada, muutes selle kasutamise ebamugavaks.

 

Dielektriliste kadude testerite väljatöötamine on asendanud traditsioonilise QS-i kõrgepinge{0}}silla. Nende tehnoloogiline areng on murdnud läbi traditsioonilise sillamõõtmismeetodi, kasutades sageduse muundamise toiteallika tehnoloogiat ja mikrokontrollerit automaatseks sageduse muundamiseks, analoog{2}}digitaalmuundamiseks ja andmete arvutamiseks, saavutades automatiseeritud mõõtmise ja lihtsustades tööprotsessi.

 

Kaasaegsed laialdaselt kasutatavad digitaalsed kõrgepinge{0}}dielektriliste kadude testerid kasutavad digitaalse sälku filtreerimise tehnoloogiat, et vältida võimsussageduslikest elektriväljadest tulenevaid häireid. Nende põhiline mõõtmispõhimõte põhineb traditsioonilisel Scheringi silla põhimõttel. Mõõtesüsteem proovib kiiresti ja sünkroonselt standardse vooluahela ja testitava vooluahela voolusignaale ning seejärel teostab analoog--{-digitaalmuunduse ja vektori arvutused, et saada testitava näidise mahtuvuse ja dielektrilise kadu väärtused.

Küsi pakkumist